第五章 承上启下的发现-《千禧年半导体生存指南》
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胡正明很欣赏周新,不仅仅是因为那封邮件,也是因为对方在沟通中表现出来的坦诚,以及这口流利的英语。
甚至在一些语气词里都和他一样。
周新在阿美利肯期间,主要沟通对象之一就是胡正明,口语主要就是在阿美利肯那几年突飞猛进的。
口语表达上二人当然会有相似之处。
周新在电话那头笑了笑:“好。”
“mosfet模型可以将 em与所有器件参数和偏置电压相关联,描述了它在解释和指导热电子缩放中的用途,你是如何想到通过电路仿真的预测性来对mosfet进行互连建模?”
跨越数千公里的电话线,两头不仅仅是地理上的距离,更是时间上的距离。
周新发给胡正明的解答,是胡正明自己在2000年的论文,发表在2000年的ieee集成电路会议论文集上,在胡正明超过九百篇论文里被引用次数排名第八。
虽然排名不是很高,但是却起到了承上启下的作用。
胡正明最大的贡献是,将半导体的2d结构,研发优化出了3d结构,也就是finfet。
从 1960年到 2010年左右,基本的平面(2d) mosfet结构一直保持不变,直到进一步增加晶体管密度和降低器件功耗变得不可能。
胡正明在加州大学伯克利分校的实验室早在1995年就看到了这一点。
finfet作为第一个 3d mosfet,将扁平而宽的晶体管结构变为高而窄的晶体管结构。好处是在更小的占地面积内获得更好的性能,就像在拥挤的城市中多层建筑相对于单层建筑的优势一样。
finfet也就是所谓的薄体(thin-body)mosfet,这一概念继续指导新设备的开发。
它源于这样一种认识,即电流不会通过硅表面几纳米内的晶体管泄漏,因为那里的表面电势受到栅极电压的良好控制。
finfet牢记这种薄体概念。该器件的主体是垂直的硅鳍片,被氧化物绝缘体和栅极金属覆盖,在强栅极控制范围之外没有留下任何硅。finfet将漏电流降低了几个数量级,并降低了晶体管工作电压。它还指出了进一步改进的路径:进一步降低厚度。
而电流不会通过硅表面几纳米内的晶体管泄漏,因为那里的表面电势受到栅极电压的良好控制,这一概念,正是mosfet进行互连建模在实验室进行复现后发现的。
周新不可能告诉胡正明,这是你自己发现的。
不过由于周新对于胡正明最重要的论文,都做过精读,对于当时是如何思考,有自己的分析。
这些分析和二十年后的老胡交流过程中,也获得了对方的认可。
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